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| APS-100型总粒度分析仪 |
| 产地：美国MAS 简介： 1)可进行详细的、绝对的粒度分析，不需要稀释； 2)不需要设置稀颗粒大小数据，APS可测量未稀释的和/或不透明的样品； 3)更好的是，与其他粒度分析仪不同的是，你不必知道一个先验的或猜测的样品粒度分布(PSD)形状； 4)APS同时产生未稀释的PSD数据，声衰减和声音速度谱，固体含量，pH，电导率和温度； 主要用途： 1)半导体化学机械抛光(CMP)料浆； 2)陶瓷； 3)油墨； 4)乳剂稳定性； 5)药品； 6)生物胶体； 7)荧光粉； 8)有机和无机颜料如Ti02和炭黑； 9)催化剂； 10)矿物； 11)聚合物乳液； 12)水和非水分散体系； 原理简介： APS 从声衰减光谱测量产生PSD数据，不需要稀释样品。APS还测量粒度范围的10纳米到100微米的样品的声音速度谱、pH、电导率和温度。 当声音穿越泥浆或胶体时，是衰减的。衰减的程度与粒度分布有关。APS可在1 - 100 MHz的频率范围内非常准确地测量声音衰减。因为声音穿过所有的物质媒介，APS声音衰减的测量可以在高浓度和/或不透明的样品中进行。粒子沉降并不是一个问题，因为在测量时样品可以被搅拌或泵送。APS分析不受样品的Zeta电势水平的约束。APS很容易分析零粒子和高电荷。 APS取样分析是快速和容易的，无需稀释样品。稀释样品费时，容易出错，并可能改变样品的实际PSD。简单地倒，或者连续泵送样品进入到APS的样品室，APS的直观的软件在几分钟内做玩余下的工作。 计算详细PSD数据的技术，不需要假设PSD形状。其他类型的仪器，例如光散射，意味着软件或操作者假设或猜测PSD是单峰、双峰、对数正态或高斯分布的。这种假设可能导致数据不可靠。 的APS硬件设计简化了操作，同时减少维护。这个设计适合研发以及重复质量控制测量。APS也适合过程在线操作。 技术参数： 1)完整的粒度分布,而不是简单的平均值和标准偏差大小的数据； 2)不需要稀释样品； 3)不需要假设PSD形状； 4)粒度范围：0.005-100微米； 5)无电解质干涉； 6)可测量水的/非水的/不透明的/粘性的样品； 7)可测量纵向粘度，%固体，PH值，电导率，温度，声衰减和声速度谱； 8)具有自动滴定选项； 9)技术：1-100MHz声衰减谱； 10)溶剂：水/非水； 11)样品固体%：0.1-60%体积比； 12)样品体积：标准是120ml，50ml小体积可用； |
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