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半导体参数分析仪

点击次数:500发布时间:2011/7/22

半导体参数分析仪

更新日期:2016/6/2 17:05:55

生 产 地:中国大陆

产品型号:4155C

简单介绍:
4155c 半导体参数分析仪
4155c半导体测试仪是agilent下一代精密半导体测试仪。4155c是描述器件的低成本、实验室级的参数测试仪。4155c低的电流、电压精度和内置的准静态cv测量能力提供了未来扩展的基础。41501b可扩展测量能力到1a/200v,还可以在4155c上增加低的噪声双脉冲发生器。

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 回收 4155C  4155C  4155C 半导体参数分析仪

联系人: 邹琼斌 

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4155c 半导体参数分析仪
4155c半导体测试仪是agilent下一代精密半导体测试仪。4155c是描述器件的低成本、实验室级的参数测试仪。4155c低的电流、电压精度和内置的准静态cv测量能力提供了未来扩展的基础。41501b可扩展测量能力到1a/200v,还可以在4155c上增加低的噪声双脉冲发生器。 4155c提供了基于pc的参数分析和表征全套方案的环境。标准配置包括一个参数分析仪,agilent i/cv 3.0 lite 自动测试软件,运行windows xp 操作系统的pc。i/cv 3.0 lite 提供一个图形用户界面,具有强大的分析工具,探针驱动和自动测试工具。  
特性
· 4155c提供4个内置的源/监控单元(mpsmus),两个电压源单元(vsus)和两个电压监控单元( vmus) · 10 fa 和0.2 uv的测试精度可满足开发新的工艺技术和评价材料 · performs quasi-static capacitance measurements versus voltage measurements · 完成准静态的电容对电压测量 · 自动提取程序参数而不需要人工操作屏幕光标 · 用超低的smus测量泄漏特性。 · 用集成的脉冲发生器和选择开关自动完成器件表征。 · 用内置的应力测量模式完成晶片的性测试 · 用图形用户界面实现“点击”测试 · windows环境提供图形数据分析能力 · 旋钮扫描功能可以快速检验探针是否接触正常。 · 待机模式消除外部电源的需要 · 触发模式可以同步ac/dc测试 · ibasic 用户功能可以绘图和分析数据。

求购/供应如下:

       示波器:TDS3032B TDS1012 TDS2024B TDS3012B TPS2024 DPO7104 TDS5054B
   频谱分析仪:8594E 8591E E4402B E4404B E4440A 8560E
   网络分析仪:8711A 8752C 8753C 8753ES E5062A 8714ES R3767CH R3767CG
   综合测试仪:CTS65 CMD60 E5515C 8921A 8920A 2945A CMU200
   信号发生器:33250A E4432B 83525A 8657B SMU200A SML03 SMIQ06
   数字万用表:3458A 34401A 34402A 34410A 8845A FLUKE189 FLUKE54200 34411A
 天馈线测试仪:DS8000B N9330A S331A S331B S331D S331C S332A S332B S33AC S332D SA2500EX SA1700EX SA6000EX
   蓝牙测试仪:MT8852B MT88220A MT8850A
       功率计:437B E4416A EPM-441A WT210 E4418B
         电源:66311B 66309B 66309D E3631A KEITHLER2303A
LCR电子测试仪:HP4287A HP4284A Aiglent4291B HP4263B HP4275A HP4278A Aiglent4278A

 
本公司:( 收购 销售 维修 租赁):
 
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4155C 

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