高低温试验箱为电子器件开展温度环境测试方案

测试前调试高低温试验箱，确保设备温度容差±2K、温度变化速率≤1K/min，设备运行稳定、参数校准合格。将预处理完成的样品静置放入试验箱有效测试区域，样品之间保持间距，避免堆叠影响温度传导。

高温测试设置温度+85℃，持续放置4h，全程保持恒温状态，测试期间监测样品工作参数（运行测试）或静置储存（储存测试）。低温测试设置温度-40℃，恒温保持4h，观察器件是否出现参数漂移、引脚失效、结构开裂等问题。温度循环测试以-40℃至+85℃为一个循环，高低温各保温1h，循环5次，模拟温度骤变环境。

测试结束后，关闭设备电源，待试验箱温度恢复至室温后取出样品，静置恢复2h，逐一检测样品外观完整性、电气性能、工作参数，对比测试前后数据。若样品无变形、开裂、氧化，电气参数偏差在允许范围内，功能正常则判定测试合格，反之则判定失效，最终整理数据形成完整测试报告。

原创作者：广东皓天检测仪器有限公司