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Nicomp Z3000 美国pss zeta电位及纳米粒度仪

点击次数：103发布时间：2023/1/10

更新日期：2024/4/18 14:38:25

生产地：中国大陆

产品型号：

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相关标签：zeta电位及纳米粒度仪 华誉仪器 美国pss 粒度仪

详细内容

zeta电位及纳米粒度仪

美国pss zeta电位及纳米粒度仪

工作原理：

粒度分布：动态光散射仪（Dynamic Light Scattering,DLS）

ZETA电位：多普勒电泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering,DELS）

检测范围：

粒径范围：0.3nm-10.0μm

ZETA电位：+/-500mV

Nicomp 380 Z3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380ZLS&S基础上升配套而来，采用动态光散射（Dynamic Light Scattering,DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，同机采用多普勒电泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering,DELS）检测ZETA电位。粒径检测范围0.3nm–10μm，ZETA电位检测范围为+/-500mV。其配套粒度分析软件复合采用了高斯（Gaussian）单峰算法和拥有利技术的Nicomp多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势。ZETA电位模块使用双列直插式方形样品池和钯电，一个电可以使用成千上万次。另外，采用可变电场适应不同的样品检测需求。既保证检测精度，亦帮用户大大节省检测成本。

技术优势

1、PMT高灵敏度检测器；

2、可搭配不同功率光源；

3、双列直插式电和样品池，可反复使用成千上万次；

4、钯电；

5、精确度高，接近样品真实值；

6、复合型算法：高斯（Gaussion）单峰算法与利的Nicomp多峰算法自由切换相位分析法（PALS)和频谱分析法（FALS）自由切换

7、快速检测，可以追溯历史数据；

8、结果数据以多种形式和格式呈现；

9、符合USP,CP等个多药典要求；

10、无需校准；

11、复合型算法：

（1）高斯（Gaussion）单峰算法与利的Nicomp多峰算法自由切换

12、模块化设计便于维护和升；

（1）可自动稀释模块利（选配）；

（2）搭配多角度检测器（选配）；

（3）自动进样系统（选配）；

美国pss zeta电位及纳米粒度仪信息由广州华誉仪器科技有限公司为您提供，如您想了解更多关于美国pss zeta电位及纳米粒度仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

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