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参考价 | ¥咨询 |
型号 | AFM100 |
日立AFM100系列多功能扫描探针显微镜
教育等各种场合普及AFM应用为目的,=
并追求操作性、可靠性及高效率观察的通用型高分辨扫描探针显微镜系统。
预装探针系统实现可靠的探针更换
AFM100 Plus/AFM100系统是以在研发、生产、教育等各种场合普及AFM应用为目的,
并追求操作性、可靠性及高效率观察的通用型高分辨扫描探针显微镜系统。
预装探针系统实现可靠的探针更换
.质保期十八个月,终生免费维护。窗口关闭式采样探子
2.在质保期内,除人为因素外,任何因仪器设计、材料或工艺不当引起的缺陷、故障我们免费修理或更换。
3.接到用户通知所提供的仪器出现故障后,十分钟内回应.
4.保证及时向用户以优惠的价格提供所需的备品备件和易损件
多功能扫描探针显微镜
主要用途:
可在大气、液体及电化学条件下对样品微区(微米至纳米量)进行形貌及其物理特性的观测分析。
主要特点介绍:
1、多功能测量:能实现高分辨的形貌测量,除用于测量各种物质的表面形貌外,能测量多种材料如无机物非金属材料、金属材料、高分子材料、复合材料和生物材料的多种物性,包括磁力、摩擦力、粘弹性、表面电位势、静电力、压电响应、电流像、电流隧道谱、电容等等。
2、液体及电化学环境测量:实现液体环境下进行接触式和轻敲式AFM测量以及电化学环境中进行AFM及STM测量。
3、独特的功能(详细功能介绍请参见下述功能模式介绍):
4、精密的设计:系统包含防震和隔音设备,满足一般条件下进行各种高分辨的测量;并可与多种设备联用,如纳米力学系统、铁电分析仪等。
一键自动测量/处理/分析
利用AFM标记功能实现同视野的AFM-SEM-EDS观察分析
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