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日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度测量系统

参考价	￥咨询
型号	F10-RT

品牌 $brandModel.Title
所属地区中国大陆
原产地-
产品摘要
日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度测量系统F10-RT
\主要特点
集成测量单元和测量台的紧凑型台式测量系统
光谱范围广，可选择多种光源
反射率和透射率同时测量，膜厚、折射率和可用分析能力消光系数
标准维护时间记录的相机测量位置
放个样品就行了。无需调整光学系统，设置非常简单

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更新时间：2024/4/26 16:29:15关注度：380

关键词标签：日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度测量系统

产品完善度：

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日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度测量系统F10-RT

F10-RT 是一款集成了测量单元和测量台的紧凑型台式测量系统。可同时测量反射率和透射率，并可轻松分析膜厚、折射率和消光系数。
只需一根 USB 线和电源线即可轻松连接，无需调整光学系统，无需复杂的设置，而且设置非常简单。

主要特点

集成测量单元和测量台的紧凑型台式测量系统
光谱范围广，可选择多种光源
反射率和透射率同时测量，膜厚、折射率和可用分析能力消光系数
标准维护时间记录的相机测量位置
放个样品就行了。无需调整光学系统，设置非常简单

主要应用

平板光学镀膜薄膜太阳能电池

聚酰亚胺、ITO、抗蚀剂、氧化膜、抗反射涂层、PET和玻璃基板上的各种光学膜

玻璃、眼镜、镜片等的硬质涂层。

CdTe、CIGS、非晶硅等

产品阵容

模型

F10-RT

-紫外线

F10-RT

F10-RT

-近红外

F10-RT

　-近红外

F10-RT

　-UVX

测量波长

范围

膜厚测量

范围

准确性

光源

190 – 1100nm	380 – 1050nm	950 – 1700nm	380 – 1050nm	380 – 1050nm
1nm – 40μm	15nm – 70μm	100nm – 150μm	15nm – 150μm	1nm – 150μm
± 0.2% 薄膜厚度		± 0.4% 薄膜厚度	± 0.2% 薄膜厚度
1纳米	2纳米	3纳米	2纳米	1纳米
氘· 卤素	卤素			氘· 卤素

测量示例

平板中使用的透明电ITO的膜厚和折射率的测定例
同时测定反射率和透射率。薄膜厚度分析 FIL Measure 软件可即时分析薄膜厚度、折射率等。

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