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USPM-RUⅢ镜片反射率测定仪
USPM-RU III反射仪可精确测量当前分光仪无法测量的微小、超薄样本的光谱反射率,不会与样本背
面的反射光产生干涉。是*适合测量曲面反射率、镀膜评价、微小部品的反射率测定系统。
消除背面反射光
采用特殊光学系统,消除背面反射光。
不必进行背面的防反射处理,可正确测定表面的反射率。
可测定微小区域的反射率
用物镜对焦于样本表面的微小光斑(?60 μm),可以测定镜片曲面及镀膜层是否均匀。测定时间短
由于使用了Flat Field Grating(平面光栅)和线传感器的高速分光测光机构,可以进行快速、再现性很高的测定。支持XY色度图、L*a*b*测定
可以依据分光测色法,通过分光反射率测定物体颜色。可以测定高强度镀膜的膜厚
采用干涉光分光法,可以在不接触、无损的情况下测定被检物的膜厚(单层膜)。
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