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ISX-3 MINI迷你阻抗分析仪
要求苛刻的测量但没有空间容纳大型笨重的实验室设备？阻抗谱在现场？借助 isx-3mini，sciospec 提供了一个设备齐全的阻抗分析仪，适合您的手掌。
价 格：￥电议型 号：ISX-3 MINI产 地：中国大陆
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OFD激光鉴频器
光学鉴频器(ofd)系统巧妙地发送与输入激光束频率波动成正比的电压信号。该模块适用于激光频率噪声表征或激光频率稳定,以大幅度降低其光全宽度在zui大线宽的一半。ofd具有超低噪声性能，成功实现频率噪声水平低至0.1 hz/hz。该光学鉴频器系统覆盖了从uv、vis、nir 到 mir的巨大波长范围，该系统使用简单,只需按一个按钮即可将 mhz 线宽激光器转换为 hz 线宽激光器。
价 格：￥电议型 号：OFD产 地：中国大陆
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Proteus系列1-9GHz任意波形发生器AWG
昊量光电新推出proteus系列任意波形发生器awg(arbitrary waveform generator)，这款proteus任意波形发生器是量子计算，雷达，和下一代5g6g通信，超宽带宽(uwb)，和wifi(802.11) 6和7等应用的理想工具。基于新的射频dac和射频adc技术，该系列awg具有高达9gs/s的采样速率和超过10ghz的多奈奎斯特区域频率范围能力。
价 格：￥电议型 号：Proteus系列产 地：中国大陆
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MPROBE 40 MSP微小区域薄膜厚度测量仪
mprobe 40 测量薄膜厚度和折射率单击鼠标在小地方。显微分光光度计 (msp) 集成在系统中同时结合显微镜，用于小点薄膜厚度测量。微小区域薄膜厚度测量仪-mprobe 40 msp用于数千种应用程序，并提供完整的标准模型系列来支持它们。微小区域薄膜厚度测量仪-mprobe 40 msp可以快速可靠地测量 1 纳米到 2 毫米的厚度，包括多层薄膜堆叠。
价 格：￥电议型 号：MPROBE 40 MSP产 地：其它
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MPROBE 50 INSITU原位薄膜厚度测量仪
原位薄膜厚度测量仪-mprobe 50 insitu用于测量薄膜厚度和 n&k（光学常数）的实时光学测量仪。该系统可以在高环境光下工作，因为它使用门控数据采集。原位薄膜厚度测量仪-mprobe 50 insitu使用高强度闪光氙灯在宽带 ( uv-nir) 波长范围内进行精确测量。mprobe 50 系统是完全可定制的，以支持不同的真空室几何形状。
价 格：￥电议型 号：MPROBE 50 INSITU产 地：其它
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MPROBE 60薄膜厚度均匀度测量系统
薄膜厚度均匀度测量系统-mprobe 60（精确定位测量）mprobe 60 是一站式系统，专为研发中心和小型制造而设计。它结合了测量厚度/n&k 与自动化小点测量的能力。mprobe 60 已应用于研发纳米技术中心。可以快速可靠地测量 1 nm至 2 mm的厚度，包括多层薄膜堆叠。不同的mprobe 60 型号主要受光谱仪的波长范围和分辨率影响，进而决定了可测量的厚度范围。
价 格：￥电议型 号：MPROBE 60产 地：美洲
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MPROBE 70在线薄膜厚度实时测量仪
在线薄膜厚度实时测量仪-mprobe 70是一种高性能厚度测量系统。在线薄膜厚度实时测量仪-mprobe 70基于光谱反射率和/或透射率测量，专为产线的连续测量而设计。一些示例包括卷对卷生产中的卷材测量（薄膜和涂层的厚度）、建筑玻璃生产（反射率、透射率和颜色坐标）、轧制金属板（油或涂层厚度）等等。我们的厚度测量系统有效地测量薄膜和厚片，具有多层分辨力；透明、彩色和有色薄膜；有机或水性涂料和粘合剂。
价 格：￥电议型 号：MPROBE 70产 地：美洲
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MProbe 20 HC手持式膜厚测量仪
手持式膜厚测量仪-mprobe 20 hc（弯曲表面）基于mprobe 20 平台可以轻松测量曲面和大型零件的薄膜厚度，mprobe 20 具有专为单层和双层应用优化的数据分析算法。它还使用手动探针代替样品台。手动探头通过光纤电缆连接到测量单元。这为在任何位置的弯曲和大表面上测量厚度提供了灵活性。一些应用实例包括：抗紫外线和头灯，保险杠，尾灯盖的硬涂层等
价 格：￥电议型 号：MProbe 20 HC产 地：美洲
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Rigol DG5000系列信号发生器
rigol dg5000信号发生器集任意波形发生器、脉冲发生器、iq基带源/中频源、跳频源、码型发生器、函数发生器6大功能于一身，该系列包括单、双通道型号，两通道的功能完全对等，通道间相位精确可调。
价 格：￥电议型 号：Rigol DG5000系列产 地：中国大陆
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Time-domain Thermoreflectance时域热反射测量系统 (TDTR 测试系统）
时域热反射测量系统 (tdtr 测试系统），即time-domain thermoreflectance, tdtr 是一种基于飞超快激光抽运探测（pump-probe）技术的导热测量技术。相比于其他导热测量技术，目tdtr技术因其可以测量纳米薄膜热导率和界面热阻以及非接触式测量特性而具有独特优势。
价 格：￥电议型 号：Time-domain Thermoreflectance产 地：中国大陆
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FOSA™高分辨光纤加速度计
高分辨光纤加速度计能在任何环境下，为多域设备带来高精度监测和早期故障检测能力。fosa光纤加速度计的分辨率是同类加速度计的500倍，噪声密度在同类中zui低。每个fosa加速度计是一个完整的即插即用系统，由我们的光纤加速度计、电光单元(eou)、带有bnc连接器的输出信号电缆、直流电源和手提箱组成。
价 格：￥电议型 号：FOSA™产 地：中国大陆
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FTG膜厚测量仪(测量厚度1nm~1.8mm)
膜厚测量仪(测量厚度1nm~1.8mm)是美国semisonsoft公司的mprobe系列，其薄膜测厚仪测量厚度可以低至1nm，厚至1.8mm，埃分辨率，非接触式无损快速测量。广泛应用在各种生产或研究中，比如测量薄膜太阳能电池的cigs层，触摸屏中的ito层等。大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。
价 格：￥电议型 号：FTG产 地：中国大陆
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