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北京淼森波信息技术有限公司 主营产品:HDMI2.0 测试,以太网测试,以太网眼图测试,以太网一致性测试,HDMI测试,HDMI眼图测试,HDMI一致性测试,USB2.0测试,USB2.0眼图测试,USB2.0一致性测试,USB3.0测试,USB3.0眼图测试,USB3.0一致性测试,SATA测试,SATA眼图测试,SATA一致性测试,DDR测试,DDR眼图测试,DDR一致性测试,PCIE测试,PCIE眼图测试,PCIE一致性测试,EMMC测试,EMMC眼图测试,FLASH眼图测试,MIPI测试,MIPI眼图测试 MIPI一致性测试,LVDS眼图测试,DVI眼图测试,VGA眼图测试,eSATA眼图测试, SAS眼图测试,DisplayPort眼图测试,高速信号眼图测试,电源完整性测试,芯片验证测试,芯片demo测试

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技术文章

高速电路测试详细指南--- PCIE/USB/HDMI/以太网/EMMC/FLASH/ DDR眼图

点击次数:517 发布时间:2021/9/17 15:40:33

   北京Misenbo硬件开放实验室正式上线以来,受到广大中小企业的关注和支持。实验室为企业提供多领域的专业测试,涵盖从产品设计到量产整个生命周期的测试解决方案与技术咨询服务。我们总结了一下常用测试项目的测试准备及测试环境搭建,以供大家参考使用。


 

DDR2/DD3/DDR4/DDR5测试



 

DDR SDRAM内存技术是从主流的PC66,PC100,PC133 SDRAM技术发展而来。这一新技术使新一代的高性能计算机系统成为可能,包括台式机、工作站、服务器、便携式,也包括新的通信产品,如路由器。DDR内存目前被广泛应用于高性能图形适配器。随着DDR总线速率的不断提升,不论做主板设计或测试的工程师,还是做内存条或DRAM芯片设计或测试的工程师都面临DDR总线信号完整性测试分析的挑战。对信号完整性工程师来说,DDR总线走线多,时序复杂,探测困难,是计算机系统中*复杂的总线。那么,对DDR的测试也是至关重要的。

01

示波器


02

测试夹具


 NandFlash/Nor Flash测试



 

NAND Flash广泛应用在各种存储卡、U盘、SSD、eMMC等等大容量设备中。NOR Flash很小,因为支持XIP,所以负责初始化系统并提供NAND Flash的驱动,类似Bootloader。而NAND Flash则存储数据和OS镜像。

 

根据测试需求不同,测试方法中提供了快速测试的逻辑控制。如果对测试速度不苛求的话,可以采用测试,这样可以对Flash芯片的所有存储区域及数据线的开路故障进行测试。                            

01

测试环境


 

 

EMMC测试

 

eMMC (Embedded Multi Media Card)是MMC协会订立、主要针对手机或平板电脑等产品的内嵌式存储器标准规格。eMMC在封装中集成了一个控制器,提供标准接口并管理闪存,使得手机厂商就能专注于产品开发的其它部分,并缩短向市场推出产品的时间。

 

由一个嵌入式存储解决方案组成,带有MMC(多媒体卡)接口、快闪存储器设备及主控制器。所有都在一个小型的BGA 封装。接口速度高达每秒400MBytes,eMMC具有快速、可升级的性能。同时其接口电压可以是1.8V或者是3.3V。

01

测试环境


02

测试波形


 以太网一致性 10M/100M/1000M/10G测试

01

测试环境


02

测试软件


The TDSET3 以太网一致性测试软件支持的标准为:1000M BASE-T, 100M Base-T, and 10M BASE-T (IEEE 802.3-2000 and ANSI X3.263-1995标准),也就是主干网中通用的RJ45口标准。

03

测试夹具


 PCIE测试

 


PCI Express(以下简称PCI-E)是一种高速串行计算机总线,用于取代老旧的PCI标准。PCI-E采用了点对点串行连接,每个设备都有自己的专用连接,不需要向整个总线请求带宽,而且可以把数据传输率提高到一个很高的频率

01

测试环境


02

测试夹具


03

测试报告


 

 HDMI1.4/HDMI2.0/HDMI2.1测试

  


高清多媒体接口(High Definition Multimedia Interface,HDMI  )是一种全数字化视频和声音发送接口,可以发送未压缩的音频及视频信号。HDMI接口在数码产品和工业级产品使用过程中,有时会出现一些异常,需要通过设备分析硬件电路的设计是不是有不足,因此我们通过设备来检测HDMI的物理层测试,一致性测试。

01

示波器 8G以上示波器


02

HDMI测试专用的测试夹具


 

USB2.0/USB3.0测试 


USB3.0和USB2.0相比有着非常本质的区别,USB3.0有两对高速差分线分别进行信号的发送和接收,为全双工工作模式,且使用了多种高速处理技术,如均衡、预加重等,对此进行的物理层一致性测试是非常重要的,USB3.0规范要求进行多个项目的测试,如发送端测试、接收端测试、线缆测试等,因此需要多种仪器进行测试。

01

测试环境


02

USB3.0测试夹具


 

SATA /SAS测试


目前市面上的SATA标准主要有SATA1和SATA2和SATA 6G两种,SATA1的数据速率到1.5Gbps,SATA2的数据速率到3Gbps,SATA6G的数据速率到6Gbps。由于SATA的信号速率比较高,因此要对SATA信号进行的探测,对于示波器器和探头的要求也非常高。SATA的信号电气规范主要是参照SATA-IO发布的SATA规范的。

要进行SATA信号的测试,只有示波器是不够的,为了方便地进行SATA信号的分析,还需要有测试夹具和测试软件。

01

测试环境


02

测试工具


 

 

DisplayPort测试



 

DisplayPort是一种数字高清视频传输标准,*初是为了取代PC显示器的DVI、VGA接口和其它数字视频设备的LVDS接口而开发的。相对于目前的HDMI接口来说,DisplayPort能实现更大的传输带宽、具有更好的可扩展性和设备兼容性,且低成本、功耗低。

 

DisplayPort 1.1标准测试解决方案已获得VESA的认证,包括源端、接收端和电缆测试方案。 

DisplayPort测试非常复杂,不仅因为它的测试项目多,还在于它需要在不同的码型,不同信号电平幅度(如400mV、600mV和800mV)和不同预加重比例的情况下进行测试的,因此测试时间非常长。

MIPI-C-PHY/D-PHY/M-PHY
测试
 

测试项目:
> TX测试;

01

测试环境


02

测试波形



 

 

LVDS测试

    LVDS是一种低摆幅的差分信号技术,它使得信号能在差分PCB线对或平衡电缆上以几百Mbps的速率传输,其低压幅和低电流驱动输出实现了低噪声和低功耗。 
      IEEE在两个标准中对LVDS 信号进行了定义。ANSI/TIA/E IA-644 中,速率为655Mbps,理论极限速率为1.923Mbps

01

测试环境


 


SPI测试


SPI是串行外设接口(Serial Peripheral Interface)的缩写。SPI,是一种高速的,全双工,同步的通信总线,并且在芯片的管脚上只占用四根线,节约了芯片的管脚,同时为PCB的布局上节省空间,提供方便,正是出于这种简单易用的特性,如今越来越多的芯片集成了这种通信协议。


I2C/I2S
测试


 
















I2C总线是由Philips公司开发的一种简单的,双向二线制同步串行总线。它只需要两根线即可在连接于总线上的器件之间传递信息。

01

测试环境


 

 

RS232串口测试


 

串口是计算机上一种非














常通用的设备通信协议。两个串口连接时,接收数据针脚与发送数据针脚相连,彼此交叉,信号地对应相接即可。RS-232接口:通常适合于数据传输频率在0~20000bps范围的通信。是点对点的通信方式,在PC机上通常都是COM串口。

01

测试环境



PI电源完整性
测试 

主要内容是电源的电压值(精度)、电源噪声/纹波、电压上下波形、测量缓启动电路参数、电源电流和冲击电流、电源告警信号、冗余电源的均流参数。

01

测试环境




信号测试项目

 

USB

测试

 

 USB2.0 (Host) (one Port)-(high speed)

 USB2.0 (Host) (one Port)-(high&full&low speed)

以上测试需提供发包指令

 

 USB2.0 (Device) (one Port)-(high speed)

 USB2.0 (Device) (one Port)-(high&full speed)

 USB 3.0/3.1/4.0 GEN1/GEN2 TX

 ‍USB Type_A PD3.0

 USB Type_C PD3.0

 USB GEN1 / GEN2 RX

以上测试仅提供样品

 

PCIE
测试

 

 

 PCI Express  2.0/3.0/4.0/5.0 (one Lane)  TX&RX

● PCI Express X1/X4/X8/X16 (one Lane)  TX&RX

 M.2 TX&RX

 U.2 PCIe  TX&RX

 Mini PCIe(one lane) TX&RX

以上测试仅提供样品

 

Memory

检测

 

 DDR2  (one Chip)

 DDR3  (one Chip)

 DDR4  (one Chip)

 DDR5  (one Chip)

 DDR2  (one DIMM)

 DDR3  (one DIMM)

 DDR4  (one DIMM)

 DDR5  (one DIMM)

 GDDR4

 GDDR5

 Clock System (M/B)

 Nand Flash (one Chip)

 Nor Flash (one Chip)

 eMMC

 SD Card

以上测试需线路图及layout

 

移动通信

测试

 

 

 MIPI  D-PHY&C-PHY (1 pair Clock+ 1 pair Data )

 MIPI D-PHY&C-PHY (1 pair Clock+ 2 pair Data )

 MIPI D-PHY&C-PHY (1 pair Clock+ 4 pair Data )

以上测试需线路图及layout

 

网络信号

测试

 

 

 Ethernet (10/100/1000 Base-T) (one Port)

 RJ45 Ethernet 10G

 QSFP+(one lane)

 SFP+(one lane)

以上测试需提供发包指令

 

显示接口

测试

 

 

 LVDS  (Single Link)

 LVDS  (Dual Link)

 V by One(one port)

以上测试需提供线路图,样品

 

 HDMI1.4  (one Port*one Resolution)

 HDMI2.0  (one Port*one Resolution)

 HDMI2.1  (one Port*one Resolution)

 HDCP 1.4

以上测试仅提供样品

 

 DisplayPort1.1  (one Port)

 DisplayPort1.2  (one Port)

 DisplayPort1.4  (one Port)

 DP over Type  C  (one Port)

以上测试需提供发包指令

 

 DVI  (one Port)

 VGA  (one Port)

 

存储

测试

 

 

 SATA 2.0/3.0  TX&RX  (one Port) 

 eSATA  TX&RX 

 SAS 2.0/3.0  TX&RX 

以上测试RX需提供发包指令

 

低速总线

测试

 

 

 SMBus (one Pair)

 I2C/I2S (one Pair)

 SPI (one Pair)

 LPC

 

_

DC-POWER

测试

 

 

 DC-DC

 VRTT TEST

 Margin

 

_

计算机外设

测试

 

 

 Thunderbolt 2.0/3.0 TX

 Thunderbolt 2.0/3.0 RX

 

 

_

原创作者:北京淼森波信息技术有限公司

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