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μsurf explorer NanoFocus三维形貌轮廓仪

点击次数:147发布时间:2021/12/3

μsurf explorer  NanoFocus三维形貌轮廓仪

更新日期:2021/12/3 9:42:13

生 产 地:

产品型号:μsurf explorer

简单介绍: NanoFocus μsurf系列三维形貌轮廓仪采用多孔共聚焦技术,结合CCD的影像摄取,以有许多孔洞的旋转盘取代侦测器的孔洞,再将物镜垂直移动,以类似断层摄影方式,可在短时间(约几秒)内量测物体的三维数据。其测量方式是非接触式,不会破坏样品的表面,不需要在真空环境下测量,也可以用显微镜测量的功能来观测样本,其在严酷的工作环境下,也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法,在测量渐变较大的高度时,跟其他方法相比,可以更量测物体高度,建立3D立体影像,优势相当明显。

详细内容

    NanoFocus μsurf系列三维形貌轮廓仪采用多孔共聚焦技术,结合CCD的影像摄取,以有许多孔洞的旋转盘取代侦测器的孔洞,再将物镜垂直移动,以类似断层摄影方式,可在短时间(约几秒)内量测物体的三维数据。其测量方式是非接触式,不会破坏样品的表面,不需要在真空环境下测量,也可以用显微镜测量的功能来观测样本,其在严酷的工作环境下,也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法,在测量渐变较大的高度时,跟其他方法相比,可以更量测物体高度,建立3D立体影像,优势相当明显。

μsurf系列三维形貌轮廓仪应用 
    μsurf系列用来测量表面物理形貌,进行微纳米尺度的三维形貌分析,如3D表面形貌、2D的纵深形貌、轮廓(纵深、宽度、曲率、角度)、表面粗糙度等。 
精密部件:检测对表面磨损,表面粗糙度,表面微结构有要求的零部件,比如发动机汽缸、刀口等; 

    生命科学:测量stents支架上镀层厚度等 
    微电子机械系统:微型器件的检测,医药工程中组织结构的检测,如基因芯片等 
    半导体:检测微型电子系统,封装及辅助产品结构设计 
    太阳能:太阳能电池片栅线的3D形貌表征、高宽比测量,制绒后3D形貌表征(单晶金字塔大小、数量、角度,多晶腐蚀坑形貌、密度),粗糙度分析等 
    纸张:纸张、钱币表面三维形貌测量 
    LED:用于蓝宝石衬底的测量,抽检PSS ICP后的WAFER的3D形貌 

μsurf系列技术参数 

    LED光源:λ= 505 nm, MTBF: 50,000 h 
    测量时间:2~10秒 
    测量原理:非接触、共聚焦 
    X/Y方向:平台移动范围:100mmX100mm/200mmX200mm/300mmX300mm(大小可选),马达驱动,X/Y方向分辨率:0.3μm 
    Z方向测量范围:350&mu;m,Z方向分辨率:< 1nm 
    物镜:10X、20X、50X、100X(可选) 
    离轴摄像头(10X),zui大视野8 x 6 mm2(选配) 
    计算机:高性能计算机控制系统,功能强大且的软件,有拼接功能 
    配有专业工作台:尺寸1550x800x750 mm (LxH) 
    工作电源:100-240V, 50-60Hz,input: 550 VA 
    材质:钢铁、橡胶、大理石 
    重量:约150KG+80KG 
    洁净室等级: Capability class 6 (according to DIN EN ISO 14644)

 

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