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济南创谱仪器有限公司是一家集光学、精密机械、电子、计算机技术于一体的高科技企业。目公司的手动探针台、光学隔振平台、光学积分球、电控位移台、手动位移台、光学调整架等产品已经形成产品系列化,规格多元化，国内多家科研单位、激光加工设备厂商、光纤设备厂商在使用我们的产品。 创谱仪器主要生产经营：光源（氙灯/光催化氙灯光源，卤钨灯光源，氘灯，汞灯，多波长可调光源，激光器）、分光单色仪、光学积分球、光电探测器、数据采集器、光谱测量系统、电控精密位移台、手动精密位移台、光学调整架、光学平台、光学元件等系列产品。
积分球均匀光源测光功率光通量反射率量子效率辐射光度球光通球PTFE
创谱仪器ISK系列积分球是可以把光源/样品放置在积分球内部进行测量，如光源放置在内部，可以形成均匀光源；如中心内部放置样品，可以测试样品的荧光量子效率；内壁喷涂PTFE，具有很高的漫反射特性
积分球测光功率光通量反射率量子效率辐射光度球光通球PTFE水冷
测光积分球是光学中一种通用的测量仪器，如照明灯学，纤维光学，激光技术，照相化学，材料分析和医学技术，积分球在这些域都获得了广泛的应用。由于积分球内表面层具有高反射和散射得特性，光均匀分布在球壁上，并作
积分球均匀光源测光功率光通量反射率量子效率辐射光度球光通球PTFE
测光积分球是光学中一种通用的测量仪器，如照明灯学，纤维光学，激光技术，照相化学，材料分析和医学技术，积分球在这些域都获得了广泛的应用。由于积分球内表面层具有高反射和散射得特性，光均匀分布在球壁上，并作
漫反射标准白板灰板目标板高漫反射白板高朗伯特性定制PTFE发泡靶标
白板就是标准白板、参考白板的简称，是一种光学传递标准，是由国家计量院（国家标准局）提供一种已经标定过的、有光谱反射率数据的白板，广大用户要依据这个数据来测量其它样品的光学性能。不管你采用何种仪器，也不
探针台测试探针座探针调整平移台高精度IV测试探针夹具探针架探针座
◆主体材质采用航空铝合金，表面喷砂氧化，良好的机械性能，高强度，耐磨
◆位移部分采用进口交叉滚珠导轨，超高稳定性
◆整体驱动采用进口高分辨率微分头，提高整体位移精度
◆匹配多功能调节
探针台测试探针座探针调整定位器高精度IV测试探针夹具探针架探针座
主体材质采用航空铝合金，表面喷砂氧化，良好的机械性能，高强度，耐磨
位移部分采用进口交叉滚珠导轨，超高稳定性
整体驱动采用进口高分辨率差动微分头，分辨率高达0.5μm
匹配多功能调节
探针台测试探针座探针调整平移台高精度IV测试探针夹具探针架定位器
★主体材质采用航空铝合金，表面喷砂氧化，良好的机械性能，高强度，耐磨
★位移部分采用进口交叉滚珠导轨，超高稳定性
★整体驱动采用进口高分辨率微分头，提高整体位移精度
★匹配多功能调节
漫反射标准白板灰板目标板高漫反射白板高朗伯特性定制PTFE发泡靶标
CHPUIST创谱仪器CPBT系列标准白板采用不锈钢叉式压板作为固定板，不受台面标准孔位限制，可360°内任意找安装孔，安装方便牢固，采用旋转式升降支架为为驱动升降部分，精加工升降螺纹微调高度,方便快
探针台测试探针座探针调整平移台高精度IV测试探针夹具探针架探针座
★主体材质采用航空铝合金，表面喷砂氧化，良好的机械性能，高强度，耐磨
★位移部分采用进口交叉滚珠导轨，超高稳定性
★整体驱动采用进口高分辨率微分头，提高整体位移精度
★匹配多功能调节
探针台测试探针座探针调整定位器高精度IV测试探针夹具探针架探针座
★主体材质采用进口航空铝，在保证稳定性的同时，保证线性移动精度
★位移部分采用精密加工燕尾槽，采用分离式燕尾，可以保证位移精度
★整体驱动采用手轮驱动，双顶丝设计，提高稳定性
★匹配
探针测试台探针座探针调整平移台高精度IV测试探针夹具探针架探针座
◆主体材质采用进口航空铝，在保证稳定性的同时，保证线性移动精度
◆位移部分采用精密加工燕尾槽，采用分离式燕尾，可以保证位移精度
◆整体驱动采用手轮驱动，双顶丝设计，保证稳定性
◆匹配
探针台手动测试晶圆探针台失效分析IV测试光电测试探针架探针座
在实际得科研生产中，由于样品/晶圆（Wafer）得尺寸越来越大，用于测试的探针台相当昂贵，我司根据客户市场应用自主研发的这款结构小巧，功能实用，成本较低的简易式探针台，在满足基本测试功能基础上，去除了
加热探针台恒温调整样品太高精度IV测试光电分析高温探针台定位器
TDR系列探针台包括探针台面板，探针架，高精度探针定位器，恒温样品台，样品位移系统，显微成像系统等组成，模块化设计，后期方便升满足不同应用要求
创谱仪器PS-IV系列太阳电池IV测试台由探针定位器、基座、样品台模块组成，可以适用于多种测试环境，满足不同客户的测试需求；
PS-IV系列探针台探针采用镀金弹簧探针，可以防止划伤电池产品的同时
探针台手动测试晶圆忆阻器失效分析IV测试光电流测试Mapping架探针座
在实际得科研生产中，由于样品/晶圆（Wafer）得尺寸越来越大，用于测试的探针台相当昂贵，我司根据客户市场应用自主研发的这款结构小巧，功能实用，成本较低的简易式探针台，在满足基本测试功能基础上，去除了
探针台手动测试晶圆探针台失效分析IV测试光电测试探针架探针座
在实际得科研生产中，由于样品/晶圆（Wafer）得尺寸越来越大，用于测试的探针台相当昂贵，我司根据客户市场应用自主研发的这款结构小巧，功能实用，成本较低的简易式探针台，在满足基本测试功能基础上，去除了
高精度探针台手动测试晶圆忆阻器失效分析IV测试光电流测试Mapping架探针座
在实际得科研生产中，由于样品/晶圆（Wafer）得尺寸越来越大，用于测试的探针台相当昂贵，我司根据客户市场应用自主研发的这款结构小巧，功能实用，成本较低的简易式探针台，在满足基本测试功能基础上，去除了
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